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北京時(shí)代新天測(cè)控技術(shù)有限公司作者
影響涂層測(cè)厚儀的測(cè)量因素 :
涂層測(cè)厚儀在測(cè)量物體時(shí),除測(cè)量方法外,還會(huì)有其他因數(shù)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果有所偏差,具體影響因數(shù)請(qǐng)看下表.
涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量的因素對(duì)照表 :
測(cè)量方式法 | 磁性測(cè)量 | 渦流測(cè)量 |
基體金屬磁性質(zhì) | ＊ | |
基體金屬電性質(zhì) | ＊ | |
邊緣效應(yīng) | ＊ | ＊ |
曲率 | ＊ | ＊ |
試件粗糙度 | ＊ | ＊ |
磁場(chǎng) | ＊ | |
附著物質(zhì) | ＊ | ＊ |
測(cè)頭壓力 | ＊ | ＊ |
測(cè)頭取向 | ＊ | ＊ |
基體金屬厚度 | ＊ | ＊ |
試件的形狀 | ＊ | ＊ |
涂層測(cè)儀除了可以測(cè)量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層,亦可以測(cè)量金屬電鍍的鍍層測(cè)厚儀,因此,涂層測(cè)厚儀,通常也稱(chēng)為涂鍍層測(cè)厚儀 .
北京時(shí)代新天科貿(mào)有限公司
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