渦流測厚儀 型號:TC-ED400

渦流測厚儀 型號:TC-ED400

TC-ED400型渦流測厚儀是TC-ED400型測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。
      儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
      儀器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
    TC-ED400型渦流測厚儀與TC-ED400型相比，具有如下特點：
＊量程寬   TC-ED400型的量程達到0～500μm。
＊精度高   TC-ED400型的測量精度達到2%。
＊分辨率高  TC-ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便   只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
＊基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
   誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高   采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性
   提高。
＊穩定性提高   采用的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器
   校正一次可在生產現場使用。
＊探頭線壽命長   采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
   可大大延長。
＊探頭芯壽命長   采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延
   長。
＊探頭可互換   外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
   需返廠維修。

測量范圍：     0～500μm
測量精度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     260g