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XAU-4CS專(zhuān)精多功能XRF_涂鍍層測(cè)厚儀_X熒光光譜儀_環(huán)保檢測(cè)儀

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1）搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線(xiàn)發(fā)生器和的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

1）搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線(xiàn)發(fā)生器和的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，最小測(cè)量面積達(dá)0.03mm2

2）擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm

3）核心EFP算法，可對(duì)多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測(cè)層Ni和第三層Ni的厚度）

4）配備高精密微型移動(dòng)滑軌，可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)

5）裝配SDD硅漂移探測(cè)器，分辨率更高，測(cè)試速度更快，數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定

6）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

7）成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

8）RoHS、鹵素有害元素檢測(cè)

9）人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

10）標(biāo)配4準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

11）配有微光聚集技術(shù)，最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%

XAU-4CS是一款一機(jī)多用型X熒光光譜儀/環(huán)保檢測(cè)儀，匠心打造的新一代設(shè)計(jì)，是一款科技感的一機(jī)多用型光譜儀，采用的EFP算法和微光聚集技術(shù)的同時(shí)搭配新一代的多道及時(shí)序排列，專(zhuān)精型既保留了專(zhuān)用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿(mǎn)足微區(qū)RoHS檢測(cè)及全元素分析，每一個(gè)功能都是的。

關(guān)鍵詞：熒光光譜儀光譜儀測(cè)厚儀

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