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秋山科技（東莞）有限公司作者
日本marktec高強度紫外線探傷燈 超輕D-40
| 資料類型 | jpg文件 | 資料大小 | 48910 |
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| 上 傳 人 | 秋山科技（東莞）有限公司 | 需要積分 | 0 |
| 關 鍵 詞 | 紫外線探傷燈,磁粉探傷燈 | ||
- 【資料簡介】
日本marktec高強度紫外線探傷燈 超輕D-40
特征
-即使在高強度和約100個外觀的亮度下，也可以檢測熒光缺陷。
-緊湊輕巧的機身易于安裝和維護。
-光分布均勻，適合圖像處理。
-可以安裝可切割99％可見光的光暈截止濾光片。產品描述
-Mark Tech的黑光中
增加了具有可見光光暈切割的模型（美國PAT.6.525.315）。
-有助于改善工作環境和檢查精度。采用
?熒光探傷
?污染檢查
?泄漏檢查
?脫脂清洗確認產品規格
主要規格 模型 D-40 配光 均勻的光分布 輸入電壓/功耗 AC200 / 220V±6％? 50Hz / 60Hz ? 420瓦 二手管 400W金鹵燈 紫外線強度
（距過濾器600毫米）D-40 ? 1 5500μW/ cm 2以上
D-40 ? 2 5100μW/ cm 2以上尺寸/重量
照明設備：310W x 253D x 270Hmm，約8.5kg穩定器：
400W x 112D x 112Hmm，約13kg
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