X熒光鍍層測厚分析儀 返回列表頁

儀器介紹

早期，X熒光鍍層測厚分析儀基本被國外廠家（德國費希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開始做光譜儀，是一家專業生產光譜儀的廠家，在X熒光鍍層檢測方面，*打破國外的技術壟斷。天瑞Thick800A內置了天瑞研發的信噪比增強器與數字多道分析器，在測試精度可以與進口設備PK過程中不落下風。超低的檢出限使儀器的性能在與進口設備（費希爾，精工，牛津等）PK過程中不落下風；儀器使用方便，測試快捷，可以測試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-20053、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005測量標準1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000    金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點：1. 高精度移動平臺可準確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；3. φ0.2mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；4. 定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；5. 鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；6. 高分辨率探頭使分析結果更加準確，微小測試點更準確；7. X射線鍍層測厚儀廠家優勢在于滿足客戶要求的情況下，價格更優惠、售后服務更方便，維護成本更低。 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行準確定位測試，其測試位置如圖。
 

X熒光鍍層測厚分析儀技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。