雙基涂層測厚儀WH82WH82雙基涂層測厚儀是一種便攜式雙基（鐵、鋁）測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室中的精密測量，也可用于工程現(xiàn)場廣泛地應用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等領域，是企業(yè)保證產品質量、商檢測控、的檢測儀器。

詳細介紹

雙基涂層測厚儀WH82

WH82雙基涂層測厚儀是一種便攜式雙基(鐵、鋁)測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室中的精密測量，也可用于工程現(xiàn)場廣泛地應用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等領域，是企業(yè)保證產品質量、商檢測控、的檢測儀器。

WH82雙基涂層測厚儀的技術參數(shù)

測量范圍	0-1250um
工作電源	兩節(jié) 5 號電池
測量精度誤差	零點校準 ±(1+3%H);二點校準±【(1%～3%H)】H+1.5
環(huán)境溫度	0-40℃
相對濕度	≤85%
zui小基體	10*10mm
zui小曲率	凸：5mm;凹：5mm
zui薄基體	0.4mm
重量	115 克(含電池)
尺寸	110mm65mm30mm

WH82雙基涂層測厚儀符合以下標準

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀

JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

WH82雙基涂層測厚儀的產品特點

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測量頭的系統(tǒng)誤差進行修正，保證儀器在測量過程中儀器的準確性;能快速自動識別鐵基體與非鐵基體具有電源欠壓指示功能操作過程有蜂鳴聲提示;設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式;有負數(shù)顯示功能，保證儀器在零位點的校準準確性;有顯示平均值、zui大值、zui小值功能[*]

WH82雙基涂層測厚儀的測量原理

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
膜厚儀

a) 磁性法(F 型測量頭)

當測量頭與覆蓋層接觸時，測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
涂層測厚儀

b) 渦流法(N 型測量頭)

利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測量頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
膜厚儀

WH82雙基涂層測厚儀的使用說明

1)開機

按下 ON 鍵后儀器聽到一聲鳴響，自動恢復上次關機前的參數(shù)設置后，將顯示0.0μm，儀器進入待測狀態(tài)。可測量工件了。經(jīng)過一段時間不使用儀器將自動關機。

2)關機

在無任何操作的情況下，大約 3分鐘后儀器自動關機。按一下“ON”鍵，立即關機。

3)單位制式轉換(公制與英制轉換)

在待測狀態(tài)下，按μm/mil可轉換其測量單位。

4)測量

a)準備好待測試件

b)是否需要校準儀器，如果需要，選擇適當?shù)男史椒ㄟM行(參照 4 儀器校準)

c)迅速將測量頭與測試面垂直地接觸并輕壓測量頭定位套，隨著一聲鳴響，屏幕顯示測量值，儀器會自動感應被測基體：感應到是磁性基體時儀器顯示 Fe感應到是非磁性金屬時儀器顯示 NFe。測量時請始終保持儀器處于垂直狀態(tài)!提起測量頭可進行下次測量;
膜厚儀

WH82雙基涂層測厚儀的影響因素

a) 基體金屬磁性質

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。

b) 基體金屬電性質

基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

c) 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

d) 邊緣效應

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

e) 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f) 試件的變形

測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g) 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

h) 磁場

周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

i) 附著物質

本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。

j) 測量頭壓力

測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

k) 測量頭的取向

測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測量頭與試樣表面保持垂直。

WH82雙基涂層測厚儀使用時應當遵守的規(guī)定

a) N 基體金屬特性

對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。