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涂層測厚儀MiniTest2500/4500

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更新時間：2024-04-22 11:53:23瀏覽次數：231次

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北京時代銳達科技有限公司

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產品簡介

德國EPK(Elektrophysik)公司涂層測厚儀MiniTest2500/4500作為MiniTest1100-4100系列的升級產品，為涂層測量領域的廣泛任務提供了多種探頭、不同的校準方法和評估選項。MiniTest 2500/4500涂層測厚儀具有IP65防護等級，人機工程學設計，高對比度顯示屏和背光鍵盤，以及其他有用的功能。可存儲多達200萬個測量值，通過USB接口向計算機傳輸數據。......

詳細介紹

功能介紹

	MiniTest2500	MiniTest4500
可存儲的讀數總數 *大批組數量具有獨立校準值的應用程序存儲數量具有相同校準值的批組每個應用程序存儲的批組數量	2000000 1 - -	2000000 超過9500 99 99
統計功能(每批組)	kvar, n, max., min.	kvar, n, max., min., CP, CPK
校準	-	如果無基材使用，則通過涂層進行校準(CTC)
補償功能	-	用于從讀數中加/減一個恒定值
極限設置(用戶自定義)	-	超出限制時的光信號和聲音信號報警
測量單位	μm, mm, cm, mils, inch
接口可升級接口	USB -	USB和藍牙 4.0 報警輸出，腳踏開關觸發，RS 232接口
電源/每次更換電池的工作時間	3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(不使用背光)
規范和標準	DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840； ASTM B244,B499, D7091, E376
顯示	53 x 46 mm，帶背光
操作溫度/存儲溫度	10 ~60°C / –20 ~ 70°C
尺寸/重量	53mm x 89mm x 36mm/ 320g(儀器包括電池)，橡膠保護套90g
防護等級	IP 65

可選探頭

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

探頭	量程	低端分辨率	誤差	*小曲率半徑(凸/凹)	小測量區域直徑*	小基體厚度*
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%+0.7μm)	0.75/5mm	3mm	0.1mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%+10μm)	5/16mm	20mm	1mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%+20μm)	10/30mm	40mm	2mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%+50μm)	50/200mm	300mm	2mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%+0.5μm)	1/5mm	2mm	50μm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%+1μm)	2.5mm	2mm	100μm
N10	0-10mm	10μm	±(1%+25μm)	25/100mm	50mm	50μm
N20	0-20mm	10μm	±(1%+50μm)	25/100mm	70mm	50μm
N100	0-100mm	100μm	±(1%+0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
FN1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/6mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
F2HT	0-2000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm

注：	F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能 FN1.6/90為直角探頭，用于管內測量 N.08Cr用于測量銅上鍍鉻。 F2HT為高溫探頭，有兩款，允許在高達250°C或350° C表面溫度的熱表面上進行涂層厚度測量