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東莞市賽思檢測設備有限公司
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絕緣劣化及離子遷移特性評價系統面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝，因結露吸濕等因素造成的絕緣不好現象暨離子遷移現象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動，可高精度連續監測，高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
絕緣劣化及離子遷移特性評價系統 用 途：
面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝，因結露吸濕等因素造成的絕緣不好現象暨離子遷移現象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動，可高精度連續監測，高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
絕緣劣化及離子遷移特性評價系統適用標準：
JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
絕緣劣化及離子遷移特性評價系統 技術規格：
| 產品名稱 | 絕緣劣化及離子遷移特性評價系統 | |||||||||||
| 型號 | SIR13 | |||||||||||
| 120V基板 | 250V基板 | 500V基板 | 1000V基板 | |||||||||
| 基板測試部 | 測試電阻范圍 | 320Ω～120TΩ | 320Ω～2.5TΩ | 320Ω～250TΩ | 320Ω～500TΩ | 320Ω～1000TΩ | ||||||
| 測試通道數 | 8ch/基板 | 16ch/基板 | 8ch/基板 | |||||||||
| 連接電纜 | 2根一對/基板 4線式 | 2根一對/基板 加載測試電纜×2 | 2根一對/基板 加載電纜×1、測試電纜×1 | |||||||||
| 電氣特性 | 電 壓 加 載 部 | 加載電壓 | 電壓量程1 | 0.10V～120.00V | 0.1V～250.0V | 1.0V～500.0V | 1.0V～1000.0V | |||||
| 電壓量程2 | 0.100V～12.000V | -- | -- | -- | ||||||||
| 加載設定分辨率 | 0.10V/0.001V | 0.1V | ||||||||||
| 基本加載精度 | ±0.3%/FS | ±0.3%/FS + 0.5V/FS | ||||||||||
| 較大輸出功率 | 96mW/ch | 256mW/8ch | 300mW/ch | |||||||||
| 加載組數 | 1組（1ch/1組） | 2組（8ch/1組） | 1組（8ch/1組） | |||||||||
| 加載量程 | 2量程 | 1量程 | ||||||||||
| 加載通道數 | 1ch | 8ch | ||||||||||
| 較大負載容量 | 2.0μF/1ch | 0.47μF/8ch | 3300pF/1ch | |||||||||
| 電 壓 顯 示 器 | 顯示器量程 | 2量程 | 1量程 | |||||||||
| 顯示器 范圍 | 電壓量程1 | 0.00V～120.00V | 0.0V～250.0V | 0.0～500.0V | 0.0V～1000.0V | |||||||
| 電壓量程2 | 0.000V～12.000V | -- | -- | -- | ||||||||
| 顯示器分辯率 | 0.10V/0.001V | 0.1V | ||||||||||
| 基本顯示器精度 | ±0.3%/FS | ±0.3%/FS + 0.5V/FS | ||||||||||
| 顯示器分割單位 | 1ch | 1組或1ch | 1ch | |||||||||
| 顯示器周期 | 40ms | |||||||||||
| 顯示器通道數 | 8ch | 16ch | 8ch | |||||||||
| 電 流 測 試 | 測試量程 | 3量程 | 2量程 | 3量程 | ||||||||
| 顯示器 范圍 | 電流量程1 | 0.00μA～320.00μA | ||||||||||
| 電流量程2 | 0.0000μA～3.2000μA | |||||||||||
| 電流量程3 | 0.00nA～32.000nA | -- | 0.000nA～32.000nA | |||||||||
| 量程設定 | 320.00μA·3.2000μA ·32.000nA·自動 | 320.00μA·3.2000μA·自動 | 320.00μA·3.2000μA·32.000nA·自動 | |||||||||
| 測試較小分辨率 | 電流量程1 | 10nA | 10nA | 10nA | ||||||||
| 電流量程2 | 100pA | 100pA | 100pA | |||||||||
| 電流量程3 | 1pA | 1pA | 1pA | |||||||||
| 基本測試精度 | ±0.3%/FS | |||||||||||
| 通道數 | 8ch | 16ch | 8ch | |||||||||
| 數據收錄周期 | 定期30s（較小）/離子遷移時40ms（較?。?/span> | |||||||||||
| 離子遷移測試速度 | 40ms | |||||||||||
| 漏泄檢出 | 400μs/ch | |||||||||||
| 測試周期 | 40ms | |||||||||||
| 其他功能 | 自己診斷 | 外接標準電阻診斷 ※選配 | ||||||||||
| 連鎖 | 箱體門打開時，測試自動中斷功能 ※選配 | |||||||||||
| 斷線檢出 | 端子斷線檢出功能 | -- | ||||||||||
| 試驗槽內溫濕度收錄 | 追加溫濕度測試基板、借助3CS·keyless軟件較大可以收錄4個槽的數據 ※選配 | |||||||||||
| 樣品溫度收錄 | 通過3CS SMU 每個通道能夠收錄1個點 ※選配 | |||||||||||
| 系統較大構成 | SIR13 | 80ch（10基板） | 160ch（10基板） | 80ch（10基板） | ||||||||
| SIR13mini | 24ch（3基板） | 48ch（3基板） | 24ch（3基板） | |||||||||
| 控制部 | 系統控制電腦 | Windows XP Pro.SP2適于Windows2000） Pentium 500MHz以上 內存256Mbyte以上 | ||||||||||
| 測試部的連接 | GP-IB 或Ethernet | |||||||||||
| 其他 | 停電對策 | 停電發生前保存收錄數據，并且通電后能夠繼續收錄 ※不停電電源必須 | ||||||||||
| 控制單元 | 結構類型 | SIR13 | SMU 10插槽式 外形尺寸:W430×H300×D620 ※不包含突起部分 重量：約30kg（SMU 10枚配備時） 消耗電流：5A以下（100V使用時） | |||||||||
| SIR13mini | SMU 3插槽式 外形尺寸:W220×H370×D390 ※不包含突起部分 重量：約20kg（SMU 3枚配備時） 消耗電流：2A以下（100V使用時） | |||||||||||
| 耐噪聲能力 | 1μs脈沖 2KV 1分鐘 | |||||||||||
| 絕緣電阻 | DC500V 100MΩ以上 | |||||||||||
| 使用電源 | AC85V～264V 50/60Hz | |||||||||||
| 使用環境 | 溫度+10℃～+40℃ 濕度75%RH以下（無結露） | |||||||||||
| 保存環境 | 溫度-10℃～+ 60℃ | |||||||||||
絕緣劣化及離子遷移特性評價系統 產品圖片
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