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杭州嘉維創新科技有限公司
納米粒度分析儀:N4Plus是采用激光法測超細顆粒的儀器,激光法測顆粒度,是基于ISO13321標準分析顆粒粒度的一種方法,即利用運動著的顆粒所產生的動態 的散射光,通過光子相關光譜分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析納米顆粒粒度,其特點是快速、準確、分辨率高。
納米粒度分析儀技術參數
1.測量范圍: 3-3,000nm
2.測量時間:30-180秒
3.重現性: 優于3%CV
4.可區別平均粒度比大于2.5的兩個峰
5.精度: 2-5%
主要特點
1.是采用六個角度(在0-900C角度范圍)檢測的儀器
2.的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖,快速判別樣品類型
Zeta電位和分子量分析儀的技術參數
1、粒徑測量
粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測角度: 175o 和 12.8o
最小樣品量: 12 μl
2、Zeta電位測量
Zeta電位范圍: 無實際限制
電泳遷移率: 0 – 無實際上限
樣品電導率: 200mS/cm
樣品濃度: 40% w/v
最小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *
3、分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動態光散射)
980 - 2 ×107 Da * (靜態光散射)
最小樣品量 12 μl
* 取決于樣品
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