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詳細介紹
BAHENS儀器為您提供全自動顆粒度大小分析系統詳細的方案介紹：
全自動顆粒分析系統
1、 高整合的自動系統
全面整合進口顯微鏡、進口數碼設備、進口XYZ-3軸電動掃描臺；項目化管理、流程化操作。
2、 自動掃描
自動掃描整個樣品。支持多種掃描方式：矩形區域、圓形區域等；；支持異形樣品掃描；滿足各種不同標準、不同用戶的檢測需要，大大提高工作效率。
3、 自動聚焦
支持多種聚焦模式：補?聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。采用的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像。
4、 自動拍照
自動拍照、照片自動保存，進度狀態實時可見；照片信息存入數據庫，方便查詢；提供視場圖片瀏覽功能，可以實現視場定位回溯、重新拍照等功能。
5、 多種檢查方法
支持定義顆粒分類標準，可以根據用戶自定義檢查分類數據，很好的兼容了廠內標準、自定義標準等情況。
6、 顆粒自動識別與分類
系統自動識別顆粒、自動統計顆粒面積、直徑、圓氐榷嘀植問Ｍ敝С摯帕１嗉?拆分/重組；支持陰影校正、提高顆粒識別精度；支持幀間顆粒探測技術，保證顆粒尺寸準確。提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、顆粒統計結果、直方圖等。自動統計顆粒尺寸分布和空間分布。
7、 專業的孔隙分析報告
專業的顆粒分析報告，根據不同標準生成對應的專業報告；支持報告的個性化設計。
全自動顆粒度大小分析系統的組成及應用>圍
1、 全自動顆粒分析系統 Automatic Analysis System
全自動的顆粒分析系統是采用圖像分析法進行顆粒的分析與統計。可用于各種顆粒試樣的分析統計。例如：粉末冶金、涂料顆粒、油液中的顆粒等等。
系統由多種自動控制部分組成。包括：光學顯微鏡、3軸電動臺（支持多種高精度電動臺）、電動轉盤控制器、自動拍照系統、全自動顆粒分析軟件等。
全自動的檢驗分析過程：自動掃描整個試樣、自動拍照，顆粒自動識別、統計、分析，自動生成專業分析報告；
高精度電動臺
2、 自動掃描樣品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area
支持多種掃描方式：矩形區域、圓形區域等；滿足各種應用需要；
3、 多種自動聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多種聚焦模式：補償聚焦、跟蹤聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。采用的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像；
4、 自動拍照、視場自動定位 Automatic Camera and Field Position
采集過程自動拍照、照片自動保存，進度狀態實時可見；照片信息存入數據庫，方便查詢；
提供視場圖片瀏覽功能，可以實現視場定位回溯、重新拍照等功能。
5、 多種檢測方法 Multi Testing Standard
符合GB/T 15445-1995標準等常用顆粒粒度檢測標準，同時支持多種行業標準。
可以根據用戶自定義檢查分類數據，很好的兼容了廠內標準、自定義標準等情況。
6、 顆粒自動識別與分類
Particles Automatic Identification and Classification
系統自動識別顆粒、自動統計顆粒面積、 徑、圓度等二十余種參數。同時支持顆粒編輯/拆分/重組；支持陰影校正、提高顆粒識別精度；支持幀間顆粒探測技術，保證顆粒尺寸準確。提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、顆粒統計結果、直方圖等。自動統計顆粒尺寸分布和空間分布。
7、 專業顆粒分析報告 Professional Inclusion Report
專業的顆粒分析報告，根據不同標準生成對應的專業報告；支持報告的個性化設計。
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