從X熒光分析測量原理可以看出鍍層被激發區的特征X射線的強度與鍍層和涂層元素含量多少成正比。在定被激發區的測量區域內，鍍層和涂層元素百分比含量是固定的，因而所測得的X熒光強度與該測量范圍鍍層和涂層的厚度成定正比例關系。在定的厚度范圍內，鍍層和涂層的厚度與激發區的特征X射線的強度成正比例關系，因此只要測量該范圍內的X熒光強度值，即可算出鍍層和涂層的厚度。
根據X熒光分析測量原理，當放射性同位素源或X射線發生器（X射線管）放出的X射線照射到鍍層和涂層時，其不但能夠激發此鍍層和涂層產生相應的鍍層和涂層的特征X射線，也能夠激發基材產生相應基材的特征X射線。因此不但能夠測量鍍層和涂層的特征X射線，也可以測量基材產生基材的特征X射線來計算鍍層和涂層的厚度。
Thick800A測厚儀是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的款，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。性能特點滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
Thick800A技術指標
型號：LED支架測厚儀Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm。
分析含量般為ppm到99.9%
。鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
Thick800A標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機應用領域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量,
電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
是的鍍層測厚儀生產企業， 產品打破了外壟斷局面，性價比，在行業內銷量*，分析儀器上市公司。公司專業生產鍍層測厚儀，氣相色譜質譜儀（GCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，ROHS檢測儀，手持式ROHS光譜儀，手持式，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務，是內上市的分析儀器企業。
鍍層測厚儀展廳
