高低溫交變沖擊實(shí)驗(yàn)箱，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

兩廂式冷熱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度。

小型高低溫沖擊試驗(yàn)箱，通過(guò)變換溫度來(lái)模擬產(chǎn)品在高溫和低溫條件下的工作狀態(tài)，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和耐久性。

低溫沖擊測(cè)試機(jī)，模擬產(chǎn)品在溫度條件下的工作環(huán)境，如高溫、低溫、熱濕循環(huán)等，用來(lái)測(cè)試產(chǎn)品在不同溫度情況下的性能、材料的可靠性和耐久性。

高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度。

高低溫冷熱交變沖擊測(cè)試機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品或部件在高溫、低溫和溫度變化的條件下的耐久性和性能。

顯示屏高低溫沖擊測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品或部件在高溫、低溫和溫度變化的條件下的耐久性和性能。

手機(jī)屏高低溫沖擊箱，用來(lái)測(cè)試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)及高溫及低溫在連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)或物理傷害。

移動(dòng)式溫度沖擊老化試驗(yàn)箱是一種模擬自然界溫度急劇變化的試驗(yàn)設(shè)備，通過(guò)它能測(cè)試產(chǎn)品在溫度快速變化的過(guò)程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害，從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問(wèn)題，...

PCB電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種模擬自然界溫度急劇變化的試驗(yàn)設(shè)備，通過(guò)它能測(cè)試產(chǎn)品在溫度快速變化的過(guò)程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害，從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問(wèn)題...

芯片溫度沖擊測(cè)試箱用于電子產(chǎn)品的可靠性測(cè)試，通過(guò)模擬不同溫度條件下的工作情況，評(píng)估產(chǎn)品在不良環(huán)境下的耐用性和穩(wěn)定性。

電工產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是一種模擬自然界溫度急劇變化的試驗(yàn)設(shè)備，通過(guò)它能測(cè)試產(chǎn)品在溫度快速變化的過(guò)程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害，從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問(wèn)題，進(jìn)...

蓄能式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，用來(lái)測(cè)試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)，在瞬間下經(jīng)及高溫及低溫在連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)或物理傷害。

半導(dǎo)體封裝材料冷熱沖擊試驗(yàn)箱，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化。

電子芯片高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化。

LED半導(dǎo)體高低溫沖擊循環(huán)箱，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化。

半導(dǎo)體溫度沖擊箱，廣泛用于測(cè)試各種電器產(chǎn)品的耐溫性能?？梢杂糜跍y(cè)試電子元器件、電路板、電子設(shè)備、電池、電源等產(chǎn)品在溫度條件下的使用情況。

半導(dǎo)體芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱，用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè)，防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之...

冷熱交變沖擊試驗(yàn)箱，考核和確定電工、電子、汽車(chē)電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)。

風(fēng)冷式冷熱沖擊測(cè)試機(jī)，通過(guò)控制不同溫度下的環(huán)境來(lái)對(duì)測(cè)試件進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)，檢測(cè)其耐寒耐熱性能以及穩(wěn)定性。