MarSurf GD:面向粗糙度和波紋度測量的新型參考測量站
MarSurf GD 系列的新 Mahr 測量站設立了新標準。除了表面粗糙度評定，還可執行輪廓和波紋度評定。新的 MarSurf GD 系列讓制造公司進入新的層面，能夠在測量室中或生產環境附近可靠地保障和提升工件的制造質量。
新測量站概念綜合了速度、安全性和靈活性。其目標是提高貴公司系統的成本效益。
測量站使用用戶友好的 MarWin 軟件操作（MarWin EasyRoughness 或 MarWin ProfessionalRoughness）。
創新的技術：
快速測軸
- X 方向定位速度高達 200 mm/s
- 是前代 MarSurf GD 120 速度的 40 倍
- Z 軸默認有全部 CNC 功能
- Z 軸速度約是 Mahr 舊型號 Z 軸的兩倍
- 是市售標準 Z 軸的 5 倍
- 通過 Z 軸接觸和調零
BFW 測頭系統使用靈活的新測頭系統接口
- 測桿更換簡單，通過磁性測桿支架保護測桿
- 借助測桿支架，無需工具或適配器即可將標準測量換成橫向測量。
- 可以擴展觸摸測頭
創新的工件固定系統
- 安裝板 390 x 430 mm，孔尺寸 50 mm
- 集成 60 mm TY 調整
- 安裝板和集成 TY 調整的組合使您不再需要額外的 XY 工作臺
- 較低的工件設置有利于短測量循環，這對測量結果有積極影響
- 技術數據
| MarSurf GD 280 | MarSurf GD 140 | |
| 測桿長度 | 45 mm (x 1) 67.5 mm (x 1,5) 90 mm (x 2) 112.5 mm (x 2,5) 135 mm (x 3) | 45 mm (x 1) 67.5 mm (x 1,5) 90 mm (x 2) 112.5 mm (x 2,5) 135 mm (x 3) |
| 測量速度 | 10 mm/s | 10 mm/s |
| 掃描長度末尾（X 方向） | 280 mm | 140 mm |
| 分辨率 | 測量范圍 1：7.6 nm 測量范圍 2：0.76 nm | 測量范圍 1：7.6 nm 測量范圍 2：0.76 nm |
| 掃描長度開始（X 方向） | 0 mm | 0 mm |
| 導塊偏差 | 0.07 µm / 20 mm 0.2 µm / ?60 mm 0.4 µm / 140 mm | 0.07 µm / 20 mm 0.2 µm / ?60 mm 0.4 µm / 140 mm |
| 定位速度 | 0.02 - 200 mm/s (X) | 0.02 - 200 mm/s (X) |
| 測量范圍 mm | 500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 測針長度 1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 測針長度 | 500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 測針長度 1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 測針長度 |
