塞默飛紅外顯微鏡IR-Microscope中采用無限校正光學技術(Infinity Corrected Optics)，改變過去聚焦光為平行光，消除透鏡產生的像差，使圖像輪廓更清晰，同時如果在光路中加濾光片、偏振片時也不會產生象差。
雙光闌系統*減小機械誤差與衍射干擾，使得數據更精確，光譜更可靠。
可選DIC(微分相襯)技術(Differential Interference Contrast)，通過偏振光的干涉即可以不同顏色、不同對比度區分樣品的不同區域。
塞默飛紅外顯微鏡IR-Microscope技術參數：
1.三筒目鏡，既可攝像又可用眼觀察；
2.四位物鏡，多可同時放置四個不同的物鏡；
3.支持雙檢測器， 既可作中紅外、也可作近紅外；
4.標配可以透射、反射及ATR 三種采樣方式收集光譜；
5.面掃描(Mapping)小步長1微米,具有*的可見光分辨能力。
塞默飛紅外顯微鏡IR-Microscope主要特點：
1.*在紅外顯微鏡中采用無限校正光學技術,改變過去聚焦光為平行光；
2.利用二相色性的"True View"技術，可在掃描過程中同時觀測被測區域；
3.復合雙光闌(Reflex Aperture)， 大大減小雜散光；
4.同軸設計：可見光光路與紅外光同軸；
5.可變或固定厚度補償物鏡。
